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X射線粉末衍射技術--測量與分析基礎

  • 作者：編者:王春建|責編:葛瑞禕
  • 出版社：化學工業
  • ISBN：9787122457202
  • 出版日期：2024/08/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：184
人民幣：RMB 58 元      售價：元
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內容大鋼
    本書內容主要分為五部分：X射線粉末衍射技術的發展歷程和功能應用；X射線衍射儀器、光路配置、樣品製備和測量過程；物相分析的基本原理、分析過程、注意事項、結果評價和部分實例；X射線衍射儀器的維護保養和輻射安全；X射線衍射技術的學習方法論。
    本書著重介紹衍射圖譜的產生過程和各類影響因素，以及與物相分析功能的相關性。在測量技術方面，詳細介紹了衍射儀中各類光路元器件的工作原理和參數設置，並對測量過程的每個環節進行了詳細論述。在物相分析方面，針對最常用的物相鑒定功能開展了鑒定原理、鑒定方法、鑒定技巧、資料庫應用等方面的詳細論述，併為鑒定結果的可信度提出評估方法和依據；針對物相定量分析、微結構分析等深層次功能，由淺入深地介紹了數學原理的推導、功能發展的歷程，以及部分案例的應用，並且論證了分析方法的簡化過程等內容。最後對衍射儀的維護保養、X射線輻射安全等方面進行了詳細介紹，並對X射線衍射技術的學習方法和技巧進行了深入討論，總結性指出了技術能力晉陞的途徑。
    本書可作為相關專業本科生、研究生的教學用書，也可作為從事X射線衍射測量和物相分析工作的技術人員的參考書。
作者介紹
編者:王春建|責編:葛瑞禕
    王春建，1982年出生，山東慶雲人，博士，副教授，碩士生導師，主要從事材料表徵與分析——X射線多晶衍射技術方向的科學研究和教學工作，現就職于昆明理工大學分析測試研究中心（雲南省分析測試中心）。     主持參與國家級、省部級等自然科學基金項目15項，發表學術論文26篇，申報發明專利5項，參與修訂X射線衍射領域行業標準1項，參與修訂地方標準1項，開展線上/線下X射線衍射技術講座培訓近50次。     現任英國Malvem Panalytical（馬爾文帕納科）公司X射線聯合實驗室XRD特邀應用專家、Honarary Scientist，馬爾文帕納科X射線分析儀器用戶會常設組織委員會委員，日本RIGAKU（理學）公司中國X射線衍射儀用戶協會委員，中國丹東浩元儀器公司特邀培訓講師，《冶金分析》青年編委，《分析儀器》編委，「中國材料與試驗標準化委員會-科學試驗領域/科學試驗創新方法技術/結構形貌創新方法標準化分技術委員會」委員。
目錄
第1章  晶體與X射線衍射現象
  1.1  晶體與非晶體
  1.2  晶體的X射線衍射現象
  1.3  X射線衍射現象的發現
  1.4  X射線衍射現象的意義
  1.5  X射線物相分析依據
  1.6  X射線粉末衍射儀
  小結
第2章  X射線粉末衍射功能與應用
  2.1  物相鑒定
  2.2  物相定量
  2.3  結晶度分析
  2.4  晶胞參數分析
  2.5  固溶度分析
  2.6  納米晶粒尺寸與微觀應變分析
  2.7  殘餘應力分析
  2.8  擇優取向與織構分析
  小結
第3章  X射線衍射儀與測量光路
  3.1  衍射儀基本組成
  3.2  衍射光路組成
  3.3  X射線管
  3.4  幾何測角儀
  3.5  探測器
  3.6  光學元器件
    3.6.1  索拉狹縫
    3.6.2  發散狹縫、防散射狹縫、接收狹縫
    3.6.3  濾光裝置
    3.6.4  其他光學元器件
  3.7  常用樣品台
    3.7.1  平板樣品台
    3.7.2  自動進樣器
    3.7.3  微區樣品台
    3.7.4  多軸樣品台
    3.7.5  高溫樣品台
第4章  測量與參數
  4.1  測量程序與參數
  4.2  儀器參數
  4.3  狹縫參數
  4.4  樣品製備參數
  4.5  測量範圍
  4.6  測量速率
  4.7  測量步長
  4.8  測量模式
  4.9  測量時間
  4.10  薄膜掠入射參數
  4.11  高溫衍射參數
第5章  樣品製備技術
  5.1  樣品製備影響因素
  5.2  樣品製備方法

  5.3  粉末樣品的粒度控制
  5.4  自製標樣
  5.5  實例分析
第6章  物相定性分析
  6.1  物相定義
  6.2  PDF卡片與資料庫
  6.3  檢索軟體
    6.3.1  軟體定性檢索原理
    6.3.2  軟體定性檢索步驟
    6.3.3  軟體定性檢索方法
  6.4  物相定性分析判斷依據
  6.5  注意事項與常用技巧
第7章  物相定性結果評估
  7.1  測量質量評估
  7.2  數據平滑處理
  7.3  本底與Kα2扣除
  7.4  偽峰識別
  7.5  定性分析影響因素
  7.6  定性分析學習方法
  7.7  常見問題實例
  小結
第8章  物相定量分析
  8.1  物相定量方法概述
  8.2  參比強度法
  8.3  公式類比與準確度
    8.3.1  公式類比
    8.3.2  定量準確度
  8.4  參比強度法的限制與擴展
  8.5  全譜擬合結構精修法
    8.5.1  歷史發展
    8.5.2  Rietveld精修原理
    8.5.3  Rietveld物相定量原理
  8.6  Rietveld精修法定量實例
    8.6.1  測量圖譜和晶體文件輸入
    8.6.2  晶體基本參數編輯
    8.6.3  擬合參數編輯
    8.6.4  計算圖譜與深度編輯
    8.6.5  全譜擬合與定量
    8.6.6  結果輸出
第9章  衍射線形分析
  9.1  衍射線形
  9.2  納米晶粒引起的半高寬
  9.3  微觀應變引起的半高寬
  9.4  兩種效應引起的綜合半高寬
  9.5  衍射線形與結晶度
  9.6  擬合分峰處理
    9.6.1  背景標定
    9.6.2  擬合分峰
  9.7  結晶度的計算方法
第10章  晶胞參數精密分析

  10.1  晶胞參數簡介
  10.2  晶胞參數的計算方法
  10.3  計算偏差的來源
  10.4  計算偏差的控制
    10.4.1  機械校正
    10.4.2  測量方法校正
    10.4.3  外推函數法校正
  10.5  尋峰偏差
  10.6  「線對法」計算晶胞參數
第11章  儀器維護與輻射安全
  11.1  硬體維護
    11.1.1  X射線管的日常維護
    11.1.2  水冷系統的日常維護
    11.1.3  測角儀的日常維護
    11.1.4  樣品台的日常維護
  11.2  光路校準
    11.2.1  單色器
    11.2.2  測角儀零點
    11.2.3  「切光法」光路校準
  11.3  其他維護
  11.4  X射線的電離輻射
  11.5  電離輻射安全防護
第12章  學習方法論
  12.1  常見概念與分類
    12.1.1  散射與衍射
    12.1.2  布拉格角與衍射角
    12.1.3  物相分析與結構解析
    12.1.4  理論學習與實踐分析
  12.2  衍射測量經驗談
    12.2.1  關於X射線衍射儀
    12.2.2  關於應用光路
    12.2.3  關於數據分析軟體
  12.3  學習歷程分享
  12.4  六級階梯
參考文獻

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